簡要描述:艾德姆Solis SAB 半微量分析天平-SAB 225i量程:82g / 220g精度:0.01mg/ 0.1mg秤盤尺寸:80mm
高分辨率顯示器清晰顯示數(shù)據(jù)
水平儀和調節(jié)腳便于調整天平水平位置,以獲得最佳的稱量結果。
304不銹鋼大秤盤方便清潔
RS-232 接口用于連接到計算機和打印機
配有電源適配器
可用砝碼對天平進行外部校準
可選數(shù)字濾波控制振動的影響和干擾
良好實驗室打印結果顯示日期和時間,方便數(shù)據(jù)追蹤,符合GLP良好的實驗室操作規(guī)范。
有多種語言選擇
檢測稱重帶有聲光報警
零件計數(shù)功能可預先設置樣品大小
安全鎖槽與選配鎖,防丟失盜竊